玉米考种分析系统实粒种子整穗截面分析仪是根据图像识别原理来实现自动分析的。可用于玉米实粒种子的精确考种、对玉米的籽粒、果穗、截面分析。同时可兼做水稻、小麦、油菜、豆类、花生、芝麻等作物考种分析。

考种分析仪恒美可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。

千粒重仪可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。

恒美考种系统可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。

恒美玉米考种分析系统可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。

自动考种分析仪及千粒重系统可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。