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远红外发射率测试仪

产品简介

远红外发射率测试仪将标准黑体板与试样先后置于热板上,依次调节热板表面温度使之达到规定温度;用光谱响应范围覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别测定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到的稳定后的辐射强度,通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比,从而求出试样的远红外发射率。

产品型号:HM-FZ1
更新时间:2024-02-05
厂商性质:生产厂家
访问量:556
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应用领域:  用于测量纺织品远红外线发射率。    

产品特点:    

将标准黑体板与试样先后置于热板上,依次调节热板表面温度使之达到规定温度;用光谱响应范围覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别测定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到的稳定后的辐射强度,通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比,从而求出试样的远红外发射率。    

适用标准:    

GB/T30127(4.1)-2013    

技术参数:    

辐射源:5-14um    

热板尺寸:直径不低于60mm的圆面    

热板温度:(34±0.1)℃    

测试精度:±0.1%    

标准黑体发射率:0.95以上    

尺寸:390×335×320mm  

远红外发射率测试仪是一种专门设计用于测量材料在远红外光谱范围内的发射率的仪器。该仪器利用了光谱学和红外热像技术,可以实现对材料表面发射率的非接触式测量。这种测试仪的特点是精度高,操作方便,可以广泛应用于各种研究和工业应用中。    

在原理上,远红外发射率测试仪通过测量材料表面在不同温度下的红外辐射亮度,结合普朗克辐射定律,计算出材料的发射率。这种测试仪还具有对环境温度和湿度进行实时监测和修正的功能,从而确保了测量结果的准确性和可靠性。    

此外,这种测试仪还具有一些其他的优点。例如,它采用了红外热像技术,可以在短时间内获取大量的数据,大大提高了测量的效率。同时,这种测试仪还配备了强大的数据处理和分析软件,可以对测量数据进行实时分析和处理,为使用者提供准确、实时的发射率数据。    

是一种测量材料红外辐射性能的新工具。它的出现为材料科学和工程领域的研究者提供了一种新的测量方法。随着材料科学的不断发展,我们期待这种测试仪在未来的研究和工业应用中发挥更大的作用。

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