更新时间：2023-07-28 访问次数：1498
产品说明 X射线荧光光谱法测定黄金首饰的纯度是一种简单、快捷的方法。其原理是X射线管（或放射源）产生入射X射线（一次X射线）激发被测样品，受激发样品中的元素会放射出二次X射线，不同元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性；探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量，采用软件直接转换成各种元素的种类和含量。
硬件*性:超高的分辨率可轻松解决贵金属行业无损分析的任何复杂要求，轻松分析金、铂、铱、钨、钯、银、钌等等68种金属元素，实为贵金属行业性价比的*光谱仪。
软件优越性：XRF菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算系统；软件除能显示金属百分比纯度外，亦可显示黄金K值；软件可自动重复检测，自动测算多次检测的均值；*全局故障诊断系统；计算报告的打印格式多样化，*客户各种形式的打印要求。
激发源：Mo靶的X光管 风冷 (无辐射）
探测器：Si-PIN 探测器 (美国进口) 145Kev ± 5
高压装置：0—50KV
其它规格：
电压：交流220V/50Hz
zui大功率:144W
zui大处尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg
技术指标：
分析范围：0.001% ～ 99.99%
测量时间：自适应
测量精度：± 10ppm ～ 0.1%
分辨率 ：145Kev ± 5
测试环境：常温常态
分析元素：除贵金属常含元素和铱、锇等铂族重金属能全面测试外，该型号还能对从Na至U的70多种元素进行分析，实为贵金属行业常量分析中的实验室级光谱仪。
X射线源：X射线光管
高压器：0～50Kv
操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层测量：
镀层厚度范围<30μm
zui大测量层数：5层
测量精度：0.03μm
在线咨询